用途： 该X射线晶体分析仪，主要用于研究物质内部微观结构。如：单晶定向、检验缺陷、物质定性、测定点阵参数、测定残余应力等。 主要参数： 电 源：AC220V 50HZ 3A 功 率：2KW 靶 材：Cu（可