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光切法显微镜 9J

VIP 第2年
光切法显微镜 9J
  •  参考价: 询价
  • 最小起订: 0
  • 供货总量: 大量
  • 发布日期: 2005/12/23
  • 有效日期: 2005/12/23 14:28:00
  •  产 地: 上海
  • 经营模式:
  • 认证信息:
  • 电话:021-65488226
  • 传真:021-65503311
  • 网址:http://www.csoif.com
  • 地址:上海市齐齐哈尔路76号
  • 上海光学仪器五厂的产品
  • 上海光学仪器五厂的商铺
详细介绍
光切法显微镜 9J 以光切法测量零件表面的微观不平度,对于表面划痕,刻线或某些缺陷的深度也可以进行测量。 主要技术规格 不平深度测量范围:0.8-----80μm(▽3-----▽9) 不平宽度:用测微目镜0.7μm---2.5mm 用坐标工作台0.01---13mm 总放大倍数:60×/120×/260×/510×
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