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YX-2D6 X射线晶体定向仪
发布日期:09-05-27
        X射线晶体定向仪利用X射线衍射原理,精密快速地测定天然和人造单晶(压电晶体,光学晶体,激光晶体,半导体晶体)的切割角度,与切割机配套可用于上述晶体的定向切割,是精密加工制造晶体器件不可缺少的仪器.该仪器广泛应用于晶体材料的研究,加工,制造行业.    YX-2D6晶体定向仪是在原2型机型上,针对硅单晶设计。主要用于晶片、晶棒测量;对管套、测角仪进行改进,样品台增加承重轨道,可测2-6英寸晶片,长400晶棒,样品板面积42(宽)×70(高),主要测量角度:硅110、111、100等其他相关晶体角度。
 
    两边测角仪用户可根据本公司样品规格形状,选配不同的测角台,G系列测角仪(GA、GB、GC、GD、GE)。
 
 

主要参数:

晶棒直径:2-6′  最大8′

晶棒长度:400㎜   最长450㎜

样品板面积:42(宽)×70(高) 可适当加宽

定向精度:±30′

数显最小主读数:10′  可选配1′、0.001°、0.1°

 

 
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